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本可程式高低溫試驗箱用于試驗電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高、低的環(huán)境下存儲、運輸和使用時的適用性試驗，以評估產(chǎn)品的工作性能，適用于GB/T2423.34-2005（電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程：試驗Z/AD 溫度循環(huán)試驗方法

本杭州奧博可程式高低溫試驗箱廠家適用于GB/T2423.34-2005（電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程：試驗Z/AD 溫度循環(huán)試驗方法：IEC60068，GB、T2423.1-2008GB/T2423.2-2008，制作標準為GB/T5170.18-2005，GB/T10589（低溫試驗箱技術(shù)）、GB/T11158（高溫試驗箱技術(shù)條件）

本可程式高低溫試驗箱廠家適用于GB/T2423.34-2005（電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程：試驗Z/AD 溫度循環(huán)試驗方法：IEC60068，GB、T2423.1-2008GB/T2423.2-2008，制作標準為GB/T5170.18-2005，GB/T10589（低溫試驗箱技術(shù)）、GB/T11158（高溫試驗箱技術(shù)條件）